在半导体封测流程中,点胶、塑封、灌封工序容易产生塑封树脂溢料、管脚残胶。微幼溢料附着在芯片、引线框架、基板表表,会引发绝缘异常、接触不良、短路等问题,直接影响器件靠得住性与制品良率。传统人为刮除、化学溶剂浸泡、高压水洗、喷砂等方式,在精密芯片场景下存在不少局限,激光洗濯作为干式精密除溢料工艺,在越来越多的封测产线落地利用。
激光洗濯去除芯片溢料,依附分歧资料对激光能量差距化吸收个性实现加工。溢料多为有机树脂材质,对特定波段脉冲激光吸收率更高;芯片基材、金属引脚、陶瓷基板对该波段激光反射率更高,在合理工艺参数调控下,能量优先被溢料吸收,实现选择性断根。纳秒脉冲激光作用功夫极短,热量来不及向基材深层传导,降低热损感冒险,也就是行业常说的冷加工成效。
人为刮除对操作人员经验依赖高,一致性不不变,容易刮伤引脚与镀层,量产效能偏低;化学溶剂洗濯存在溶剂残留风险,部门敏感芯片基材不耐侵蚀,同时必要配套废液处置;高压水洗对于缝隙内固执溢料算帐能力有限,水洗后还必要烘干,存在水汽带来的靠得住性隐患。激光洗濯在精密芯片溢料去除场景,更适合对良率、干净杜仔较高要求的封测工序。
激光洗濯不是通用规划,必要结合芯片基材、溢料厚度、封装结构调试参数。能量设置过高会带来热危险,参数偏低则溢料断根不干净。在项目前期,通常必要先做试样打样,验证洗濯成效、基材状态、良率不变性,再确定量产工艺窗口。
Mansion88明升智造面向半导体封测场景,配套视觉激光洗濯去溢料设备,支持凭据芯片封装规格、产线布局做自动化规划适配,可对接前端上料摆盘、后端检测工序,为芯片溢料去除提供不变的干式洗濯规划。若是有芯片溢料去除工艺试样、产线刷新需要,能够征询获取工艺评估。